聯(lián)系方式
技術(shù)文章首頁(yè) > 技術(shù)文章 > 全部文章
進(jìn)口Fischer測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)
點(diǎn)擊次數(shù)：1859 更新時(shí)間：2017-01-12 打印本頁(yè)面 返回
進(jìn)口Fischer測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)
涂層測(cè)厚儀在測(cè)量物體時(shí),除測(cè)量方法外,還會(huì)有其他因數(shù)會(huì)導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果有所偏差,具體影響因數(shù)請(qǐng)看下表.
測(cè)量方式法 | 磁性測(cè)量 | 渦流測(cè)量 |
基體金屬磁性質(zhì) | * |
|
基體金屬電性質(zhì) |
| * |
邊緣效應(yīng) | * | * |
曲率 | * | * |
試件粗糙度 | * | * |
磁場(chǎng) | * |
|
附著物質(zhì) | * | * |
測(cè)頭壓力 | * | * |
測(cè)頭取向 | * | * |
基體金屬厚度 | * | * |
試件的形狀 | * | * |
涂層測(cè)儀除了可以測(cè)量磁性金屬基體和非磁性基體上的涂層,亦可以測(cè)量金屬電鍍的鍍層測(cè)厚儀,因此,涂層測(cè)厚儀,通常也稱為涂鍍層測(cè)厚儀.
磁性涂層測(cè)厚技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)和檢定規(guī)程
標(biāo)準(zhǔn)：
標(biāo)準(zhǔn)GB/T4956-2003《磁性基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量磁性法》
標(biāo)準(zhǔn)ISO 2178-1982
檢定規(guī)程：
JJG818-2005 《磁性、電渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x》
